Magphan SMR170 MRI性能模體簡介：
MagphanSMR170 MRI性能模體被設(shè)計用于執(zhí)行磁共振成像（MRI）掃描儀的各種性能評估。
MagphanSMR170 MRI性能模體有一個傳統(tǒng)的圓柱形外殼，用于測試組和制造商，他們的性能規(guī)格基于圓柱形模體。
它有一個可移動的端板用于內(nèi)部訪問。該壓克力圓柱體的外徑為20厘米，內(nèi)徑為19厘米。
測試立方體：圓柱形和球形的Magphan®使用10cm測試立方體進行圖像質(zhì)量測量。測試立方體由6毫米厚的聚碳酸酯塑料制成，外徑為10厘米。測試立方體包含切片厚度斜面，sensitometry小瓶，高分辨率測試板和一個低對比度盤。
配置：測試立方體板可以在標(biāo)準的2-D配置組裝，與雙相對切片厚度斜面允許操作員迅速驗證模體的z軸被精確地排列垂直于成象平面。尼龍螺絲將單元固定在一起，允許您將測試板或立方體側(cè)面更改為三維結(jié)構(gòu)。3-D配置允許從單個數(shù)據(jù)采集獲得x，y和z切片幾何測量結(jié)果

Magphan SMR170 MRI性能模體測試總結(jié)：
測試立方體和模體外殼包含允許全面測試*大可實現(xiàn)的關(guān)鍵MRI掃描儀參數(shù)的功能。下面列出了他們支持的主要組件和測試。

切片厚度斜面
-模體位置
-掃描切片寬度
-多切片間距和鄰接度
-患者對齊（3D）
-表增量準確度

Sensitometry小瓶
-T1測量
-T2測量

高分辨率測試板
-高分辨率測量（每厘米1至11線對）
-幾何失真

多-維數(shù)據(jù)集支持磁盤
-幾何失真
-像素（矩陣）大小驗證。

外殼
-空間均勻性
-信噪比

MagphanSMR170 MRI性能模體的組件：
切片厚度斜面：切片厚度斜面安裝在測試立方體的外部。斜面厚度為2mm，寬度為10mm，與模體的軸線成14°的角度，為切片寬度測量提供了4倍的放大倍數(shù)。在立方體的測試平面的中心處相對的斜面交叉以進行對齊驗證。斜坡可以用于測試多層片段內(nèi)的片之間的索引以及用于測試表增量準確性。

感光測定瓶：感光測定樣品儲存在四個圓柱形小瓶中，其外徑為1.9厘米，內(nèi)徑為1.6厘米。T1和T2的測量可以通過立方體外側(cè)的0.6厘米（1/4英寸）端口將小瓶填充各種溶液。

高分辨率測試板：高分辨率測量儀被切割成2毫米厚的丙烯酸板，由測試立方體內(nèi)的通道支撐。高分辨率測試是通過使用一系列矩形槽來完成的，測試圖形的范圍為每厘米1至11線對（5mm至0.45mm分辨率）。每厘米1至4線對之間的測試槽長度為1.25厘米，測試長度為0.9厘米，涉及每厘米5至11線對。

為了測試幾何失真（空間線性），3mm的孔以2cm，4cm和8cm的方形圖案間隔開。系統(tǒng)的幾何失真可以通過測量這些孔之間的距離來評估。

低對比度光盤：低對比度敏感度是用安裝在測試立方體底座上的丙烯酸光盤進行的。光盤中的圓形凹槽通過音量平均產(chǎn)生低對比度圖像。四組三個圓形凹槽的深度分別為0.5mm，0.75mm，1.0mm和2.0mm，直徑分別為4mm，6mm和10mm。

多-維數(shù)據(jù)集支持磁盤：兩片多-維數(shù)據(jù)集支持磁盤容納模體外殼內(nèi)的立方體，可以很容易地安裝和移除。在固定測試立方體的位置的同時，支撐盤為空間線性測量提供信息。

通過測量Magphan®在x和y方向上的直徑來測試幾何變形。幾何失真也可以通過測量支撐盤上配置為8cm，10cm和12cm正方形的3mm孔之間的距離來評估。

外殼：外殼組件由外殼和立方體支撐盤（支撐10cm測試立方體）組成。可以使用帶有測試立方體和支撐盤的模體外殼進行全面的空間均勻性測量。外殼很容易清潔，并允許使用凝膠以及液體溶液。排水時，多個端口允許不受限制的流量。

注意：MagphanSMR170 MRI性能模體不提供造影劑填充解決方案。客戶需要添加他們自己的填充解決方案。